SANKO山高薄膜厚度计探头测量支架
2026-08-10 11:40:59
admin
产品介绍
探头测量支架为 SANKO 山高膜厚计专用选配辅助配件，京都玉崎经销，适配 SWT‑NEO 系列、CTR‑2000V 等多款分离式探头型薄膜 / 涂层测厚仪，将手持式探头垂直固定，实现机械平稳下压，消除人工手持按压力度不均带来的测量偏差，提升重复测量精度，适合实验室精密检测、小工件、薄片试样的批量检测，仅为支架配件，不含测厚主机与探头。
核心功能
探头垂直定位：悬臂夹持探头，保证探头垂直垂直于被测样品表面，避免倾斜造成测量误差。
恒定压力测量：机械结构实现稳定下压，统一探头接触压力，减少人为操作带来的数据离散，提升数据重复性。
高度可调：可调节探头升降行程，适配不同厚度、不同高度的待测样品，样品放置平台平稳稳固。
样品定位限位：平台可放置小型试样，方便小零件、薄片、薄膜试样固定对位，便于多点重复检测。
仅机械辅助工装：无电子测量、存储运算功能，测量信号依旧由测厚仪主机完成采集处理。
产品特点
SANKO 原装选配支架，夹持夹具可适配 NEO 系列 SFe、SNFe、SFN‑325 等多款分离探头，不同探头可更换夹套。
金属主体结构，结构稳固，抗形变，适合实验室长期反复使用。
升降调节顺滑，锁紧机构牢靠，调节高度后可稳定锁止，探头不会自行下坠。
台面式放置，适合实验室桌面作业；不可用于工地户外手持检测。
不兼容 SAMAC‑F 一体化内置探头机型，一体化探头无法安装固定。
配件仅含支架本体，测厚仪主机、探头、校准标准片均需另行采购。
