日本Photonic‑Lattice WPA‑200 标准台式二维双折射应力测量系统

产品简介

WPA‑200是Photonic‑Lattice面向实验室开发的标准台式双折射二维成像检测设备，区别于普通偏光显微镜，依托自研光子晶体偏振传感芯片，实现非接触无损全场相位差、光轴方位、残余应力分布定量检测。整机为紧凑型台式结构，底座搭载精密样品载台，无需旋转偏振镜片等运动光学组件，2‑5秒即可完成全视场成像测量，解决传统设备量程受限、扫描耗时长的痛点。既可以做样品大面积全域筛查，选配变焦镜头还可实现微区局部观测，广泛用于光学薄膜、透明树脂、玻璃、高分子材料的研发实验与来料品质评估，是材料实验室解析透明介质内部应力、结晶取向缺陷的核心光学分析仪器。

检测原理

采用三波长光子晶体偏振面成像技术，使用523nm、543nm、575nm三组特征波长同时采集光学信号，突破单波长测量相位差局限，将相位差有效测量上限拓展至3500nm。待测透明样品透过偏振集成传感器，一次性获取视场内每一个像素点的偏振信息，经内部算法运算，直接输出相位差（光程差）、光轴角度二维分布数据；选配数据处理模块可进一步换算等效应力MPa数值，生成应力云图。整机无旋转光学机械部件，依靠面阵传感器快照式采集，避免机械运动带来的误差，保障长期测量稳定性。

核心产品特点

1. 三波长宽量程测量能力，相位差测量范围0‑3500nm，适配低相位差光学膜到高应力厚注塑树脂等不同样品，解决单波长设备高相位差时测量失效问题。

2. 全场快照式成像，检测效率高，无需逐点扫描，2‑5秒完成整个视场全部像素数据采集，输出二维分布热力图，快速定位应力集中、结晶缺陷位置，大幅缩短实验周期。

3. 无运动光学部件设计，没有旋转偏振片机构，降低机械磨损，设备稳定性高，日常维护工作量少，适合实验室长时间反复测试使用。

4. 视场灵活可拓展，标准镜头视场27×36mm～100×133mm；选配变焦镜头可缩小至3.0×4.0mm微区观测，兼顾大样品整体评估与局部微缺陷解析。

5. WPA‑View专业配套软件，支持ROI区域统计、线剖面分析、2D/3D云图渲染，测量数据可导出CSV格式，便于科研报告整理；支持远程控制API，可对接外部实验系统。

6. 标准台式轻量化机身，整机约13kg，台面摆放，安装调试简便；GigE高速数据接口，AC100‑240V宽电压供电，适配常规实验室供电环境，可增设遮光罩抑制环境杂光干扰。

主要技术参数

• 型号：WPA‑200（标准台式实验室机型）

• 测量原理：光子晶体偏振面成像，三波长同步测量

• 工作波长：523nm、543nm、575nm

• 测量输出：相位差(nm)、光轴方位角(°)；等效应力(MPa，选配功能)

• 相位差量程：0‑3500nm

• 传感器像素：384×288（约11万像素）

• 重复精度：相位差σ＜1nm（相位差＞10nm条件下）

• 测量耗时：2‑5s/全视场

• 标准视场：27×36mm～100×133mm；选配变焦镜头3.0×4.0mm‑14.2×19.0mm

• 数据接口：GigE

• 整机尺寸：W270 × D337 × H最大631mm

• 整机重量：约13kg

• 供电：AC100‑240V，50/60Hz，最大5.0A

• 配套软件：WPA‑View

• 可选配件：变焦镜头、遮光罩、应力换算模块、远程控制功能

典型应用场景

光学薄膜、偏振片、导光板相位差评价；PC、PMMA、COP等透明注塑件残余应力检测；光学镜片、玻璃、石英、蓝宝石基板内部缺陷分析；高分子材料、复合材料科研实验，球晶、分子取向研究；车载透明光学零部件研发；高校、科研院所材料实验室；光学元器件来料品质检验。