新上市！SANKO山高电磁/涡流两用膜厚检测仪“SWT-NEO系列”

新上市！SANKO山高电磁/涡流两用膜厚检测仪“SWT-NEO系列”

【提供膜厚仪基础知识合集】专用测头自动识别待测母材！可以根据测量应用选择连接探头，例如用于热电阻。

三光电子研究所的“SWT-NEO系列”是一款可用于涂装、衬里、电镀、氧化铝等
绝缘膜的膜厚测量仪。

根据测量应用，
可以从用于铁基体的探头、用于有色金属基体的探头以及用于铁基体和有色金属基体的探头中选择连接探头。

纤薄的机身设计减少了手持工作时的疲劳。
通俗易懂的向导显示画面，操作简单。

[特点]
■ 测量母材使用特殊探头自动识别和测量
■ 内置统计功能
■ 易于理解的指南显示屏幕
■ 上限/下限限制功能
■ 细长的机身

设计它在里面。
*详情请参阅PDF文档或随时与我们联系。

[其他功能]
■无线输出至打印机
■校准曲线登记功能
■大容量测量值记忆功能

*有关详细信息，请参阅PDF文件或随时与我们联系。