【京都玉崎】【日本SANTEC桑特克 】光学性能检测系统STS

STS光学性能检测系统实时功率参考可高精度测量IL/WDL/PDL特性　　　IL重复性：<±0.02dB　　　PDL重复性：±0.03dB高波长分辨率和准确度　可进行多通道测量图形用户界面和 DLL 支持 (Visual Studio)询问目录手动的白皮书：PDL 测量

• 型号： 光学性能检测系统 STS