日本ODORMONITOR神荣 FPG-60 低露点校准装置

FPG系列低露点校准装置能够精确地创造以前难以实现的各种痕量水分水平，并可控制从-100°C DP到10°C DP的宽范围。

此外，它还可以连接到各种参考仪器（CRDS 微量水分仪、镜面冷却露点仪等）和待校准仪器（探针式电容露点仪、五氧化二磷露点仪、CRDS 微量水分仪、镜面冷却露点仪等），从而能够校准所有类型的露点仪。

此外，它极其紧凑的尺寸和便携性使得在多个地点进行现场校准成为可能，这在以前是不可能的。

① 温控饱和系统可实现精确、高速的露点控制。

与其他使用大型干燥器或压力调节器的系统不同，FPG 仅通过温控饱和系统进行温度控制来控制露点，从而实现精确、高速的露点控制。此外，由于 FPG 采用完全独立的露点发生原理，无需单独的压缩气体或干燥气体，只要有电源即可在任何情况下使用。

② 与所有类型的参考仪器兼容。

通过将校准参考仪器（例如 CRDS 微量水分仪或镜面冷却式露点仪）连接到背面的样品回路连接端口，可以更精确地校准露点探头。此外，由于可以将参考仪器和待校准仪器同时连接到样品回路，因此可以校准所有类型的露点仪。

③ 可以校准各种露点探头。

本机提供三个露点探头连接端口，可同时校准三个露点探头。此外，还可选配适用于不同露点探头的连接适配器。