SANKO山高X射线荧光涂层测厚仪 EX -851
2026-08-10 11:39:28
admin
产品介绍
EX‑851 为 SANKO 山高柜式 X 射线荧光（XRF）镀层测厚仪，京都玉崎经销，采用能量色散 X 射线荧光检测原理，非接触无损测量，不损伤工件表面，可检测单层、多层金属镀层厚度，同时解析镀层成分信息，搭载 CCD 自动对焦相机，高精度电动载物台，支持多点连续自动测量，适合精密电子元器件、连接器、端子、五金电镀件的实验室与品质管控检测场景。
核心功能
无损检测：X 射线荧光非接触检测，样品无需前处理，检测完成工件可继续流转使用，适配微小精密零件检测。
双测量模式：自动测量模式，预注册多点坐标，载物台自动移动完成连续多点检测；手动测量模式，人工定位测点，灵活应对异形工件检测。
CCD 自动对焦观察：彩色 CCD 相机自动对焦，监视器实时显示照射点位，精准定位微小待测区域，规避测偏问题。
多曲线存储：可注册多组校准曲线，不同镀层材质、不同基材可直接调用，无需反复校准，不同测点可匹配独立校准曲线。
双滤波系统：机械 + 数字双滤波器，过滤干扰光谱信号，优化不同镀层条件下测量精度与稳定性。
光谱实时显示：测量过程可输出光谱图谱，便于镀层成分辅助判断。
数据统计与报告输出：配套 Windows 端软件，完成数据存储、统计运算，支持自定义格式检测报告生成，数据导出归档，满足品质追溯需求。
设备自诊断：内置自我诊断功能，显示 X 射线管使用时长，便于维护管理，保障设备安全运行株式会社サ...。
产品特点
X 射线源：油浸微焦点钨靶 X 射线管，最高 50kV 可变管电压，顶部垂直照射方式；探测器采用正比计数器。
测量范围：原子序数 22‑24：0.02‑20μm；25‑40：0.02‑30μm；41‑51：0.02‑70μm；52‑83：0.01‑10μm。
电动载物台尺寸 200×200mm，样品最大高度 90mm，载物台移动精度可达 1μm，定位精度高。
整机柜式结构，设备使用需遵守 X 射线设备相关法规要求。
可测量镀金、银、镍、铬、锡、钯等各类金属镀层，支持多层镀层解析。
整机尺寸 740×530×660mm，台式柜机，需配套电脑使用。
