日本Photonic‑Lattice PA‑micro‑S 高分辨率高速显微双折射测量机头

2026-09-04 10:49:34 admin

日本Photonic‑Lattice PA‑micro‑S 高分辨率高速显微双折射测量机头

产品简介

PA‑micro‑S为独立测量机头版本，不含显微镜本体。搭载500万像素光子晶体偏振成像芯片，可直接安装在用户现有的科研级正置显微镜三目接口，快速搭建微区二维双折射、残余应力检测系统，实现高分辨率高速快照式测量。专为低相位差微小透明样品开发，无需改造显微镜载台与物镜光路，复用用户现有显微镜硬件，兼顾研发成本与检测性能。3‑10秒即可完成单帧显微视场全部像素数据采集，输出相位差、光轴方位二维分布云图，完成微米尺度局部区域无损定量分析，适合高校实验室、光学研发机构已有显微镜设备升级改造场景。

检测原理

采用光子晶体像素偏振阵列传感技术，单波长520nm绿光光源，针对低相位差信号做优化处理，相位差量程0‑130nm。样品经过显微镜物镜放大后，成像投射至偏振传感芯片，一次性获取视场内全部位置的偏振信息；整机无旋转偏振片等运动光学部件，规避机械旋转带来的误差与漂移；算法解算每个像素点相位差、光轴方位角；选配数据处理模块，输入材料光弹系数，可换算输出等效应力MPa数值，生成显微尺度应力分布云图，实现高速面成像检测。

核心产品特点

独立机头模块化设计，不含显微镜本体，可对接用户现有兼容科研正置显微镜，充分复用已有物镜、载台，降低设备采购投入，改造部署灵活。
500万像素高解析高速测量，传感器2056×2464像素，快照式成像，3‑10秒完成完整显微视场采集，无需逐点扫描，快速捕捉微区微弱双折射、局部应力集中点、微小结晶缺陷。
面向低相位差精密样品优化，量程0‑130nm，擅长检测玻璃、石英、光学薄膜等相位差微弱试样，和WPA系列大相位差机型形成互补，重复精度σ＜0.1nm（相位差＞10nm条件）。
无运动光学机构，内部没有旋转偏振镜片，机械磨损小，长期测量漂移低，维护简单，适合长时间反复开展显微检测实验。
适配多倍率物镜，支持×2、×5、×10、×20、×50物镜切换；观测视场由物镜决定，最小可达142×170μm，最大3.5×4.2mm，兼顾小区域微观解析与稍大视场筛查。
PA‑View专业分析软件，支持ROI区域统计、线剖面分析、2D/3D云图渲染，测量数据CSV格式导出；具备实时分析、远程API控制、FOV视场校正功能，便于科研报告整理，也支持对接外部控制系统。