日本Photonic‑Lattice PA‑micro 显微型微区二维双折射评估系统

产品简介

PA‑micro是PA系列显微微区专用二维双折射测量设备，将500万像素光子晶体偏振成像单元集成至科研级正置显微镜，专为微弱相位差、微小区域的透明样品开发。区别WPA系列台式大视场机型，该设备依托显微镜物镜实现微米级观测视场，快照式无损检测，3‑10秒即可输出显微视场内相位差、光轴方位二维分布云图，聚焦微小器件局部位置的应力、分子取向缺陷解析。整机可选择完整成套机型（含显微镜），也有机头版PA‑micro‑S仅提供测量模块，可对接用户现有兼容显微镜，灵活适配高校科研、光学器件研发、微小元件来料分析场景。

检测原理

采用光子晶体像素偏振阵列传感技术，单波长520nm绿光进行测量，针对低相位差样品做信号优化，相位差量程0‑130nm。 透明样品放置显微镜载台，经过物镜放大后，光子晶体偏振面传感器一次性采集视场内全部像素偏振信息，无旋转偏振片等运动光学部件；通过算法解算输出相位差、光轴角度二维分布；选配数据处理模块，输入材料光弹系数，可换算输出等效应力MPa数值，直接生成显微尺度应力云图，规避机械扫描带来的误差，保障微区测量重复性与稳定性。

核心产品特点

1. 显微微区高分辨检测，500万像素传感器（2056×2464），搭配多倍率物镜，最小观测视场可达142×170μm，精准捕捉微小局部微弱双折射、应力集中点、微结晶缺陷，适合微型光学元件局部分析。

2. 针对低相位差样品优化，量程0‑130nm，擅长检测相位差极低的光学薄膜、微型光学元件，适合微弱应力场景，和WPA系列大相位差机型形成互补。

3. 快照式全视场成像，无需逐点扫描，3‑10秒完成一帧完整显微视场测量，快速输出二维热力分布图，大幅提升微区样品的实验与质检效率。

4. 无运动光学机构，无旋转偏振镜片，减少机械磨损，降低漂移，维护简单，可长时间稳定开展显微观测实验。

5. 显微镜配置灵活可选，整机标配可选用奥林巴斯或者尼康科研显微镜；PA‑micro‑S仅测量机头，可对接用户自有兼容显微镜，降低设备投入成本。

6. PA‑View专业显微分析软件，支持ROI局部统计、线剖面分析、2D/3D云图渲染，测量数据导出CSV；支持实时分析、远程API控制、FOV视场校正，便于科研报告整理与自动化对接。

主要技术参数

• 型号：PA‑micro（成套） / PA‑micro‑S（机头版）

• 测量原理：光子晶体偏振面成像，单波长520nm绿光

• 输出项目：相位差(nm)、光轴方位角(°)；等效应力(MPa，选配)

• 相位差量程：0‑130nm

• 传感器像素：2056 × 2464（约500万像素）

• 重复精度：相位差σ＜0.1nm（相位差＞10nm条件）

• 单次测量耗时：3‑10s/全视场

• 物镜倍率：×2、×5、×10、×20、×50；视场范围142×170μm～3.5×4.2mm

• 数据接口：GigE

• 整机尺寸(W×D×H)：270 × 500 × 610mm

• 整机重量：约18kg

• 供电：AC100‑240V，50/60Hz，最大6.0A

• 配套软件：PA‑View

• 可选配件：应力换算模块、FOV校正、远程控制、遮光罩

典型应用场景

微透镜阵列、微型光学镜片微区双折射评价；超薄光学薄膜局部相位差均匀性检测；光纤、晶体、高分子纤维微观取向分析；透明封装器件、半导体微小元件残余应力解析；柔性显示材料微观缺陷研究；高校、科研院所材料显微实验室；精密光学元器件研发与来料微区品质检验。