日本Photonic‑Lattice WPA‑200‑MT 模块化二维双折射评估系统

产品简介

WPA‑200‑MT是WPA‑200系列模块化可分离机头型二维双折射应力测量设备，区别于标准台式WPA‑200一体化整机结构，测量机头可独立脱离原装底座，既可搭配原配底座用于实验室桌面研发检测，也可直接集成至自动化产线、检测工位，实现在线批量检测。继承三波长光子晶体偏振成像技术，无旋转偏振片等运动光学构件，快照式成像，2‑3秒即可完成全视场相位差、光轴方位二维mapping扫描，实现透明样品非接触无损检测。兼顾实验室研发和工业在线质控，是光学薄膜、透明树脂、镜片零部件研发与量产检验两用型设备。

检测原理

采用三波长光子晶体偏振面成像技术，523nm、543nm、575nm三组特征波长同步采集偏振信息，相位差测量量程0‑3500nm，选配高相位差选件可进一步扩大量程。 光线穿透被测透明样品，受内部残余应力、分子取向产生双折射效应；光子晶体偏振阵列芯片一次性采集视场内全部像素偏振态，算法解算出相位差、光轴方位角分布，选配数据处理模块换算等效应力MPa，输出二维应力云图。整机无机械旋转镜片，消除机械机构带来的重复误差，机头轻量化，适配设备集成环境长期稳定运行。

核心产品特点

1. 模块化可分离机头设计，测量机头与底座可拆分，既可作为实验室台式设备使用，也可直接嵌入自动化流水线、检测工装，实现实验室研发与产线在线检测一机两用，设备复用性强。

2. 快照式高速全场测量，无需逐点扫描，2‑3秒完成完整视场全部像素采集，直接输出二维分布热力图，快速定位应力集中、结晶取向缺陷，适配产线高速检测节拍。

3. 三波长宽相位差量程，0‑3500nm相位差测量范围，兼顾低相位差光学薄膜与高应力厚注塑树脂，规避单波长测量高相位差时跳变失效的问题。

4. 无运动光学部件，没有旋转偏振片机构，机械磨损小，维护工作量低，适合实验室反复测试以及工厂7×24小时在线连续运行。

5. 镜头可配置，标配标准镜头，选配变焦镜头，可实现微区观测；镜头出厂选定，不可后期更改，满足大面积样品筛查以及局部微缺陷解析两种需求。

6. WPA‑View专业配套软件，支持ROI区域统计、线剖面分析、2D/3D云图渲染，数据可导出CSV格式；具备远程API控制、实时分析、良品不良判定输出，对接上位机系统，适配自动化产线数据溯源需求。

主要技术参数

• 型号：WPA‑200‑MT

• 测量原理：光子晶体偏振面成像，三波长同步测量

• 工作波长：523nm、543nm、575nm

• 输出项目：相位差(nm)、光轴方位角(°)；等效应力(MPa，选配功能)

• 相位差量程：0‑3500nm，可选高相位差选件扩展量程

• 传感器像素：384×288（约11万像素）

• 重复精度：相位差σ＜1nm（相位差＞10nm条件下）

• 单次测量耗时：2‑3s/全视场

• 视场：标准镜头约33×44mm；变焦镜头选配约4.1×5.5mm‑11.5×15.3mm

• 数据接口：GigE

• 整机尺寸（带底座）：W160 × D215 × H300mm

• 整机重量：约4.5kg

• 供电：AC100‑240V，50/60Hz，最大5.0A

• 配套软件：WPA‑View

• 可选配件：变焦镜头、遮光罩、应力换算模块、远程控制功能、FOV视场校正功能

典型应用场景

光学镜片、车载透明光学零部件残余应力检测；光学薄膜相位差均匀性实验室研发与产线在线抽检；PC、PMMA、COP透明注塑件来料品质管控；玻璃、石英基板双折射缺陷评价；显示行业导光板、光学板材检测；高分子材料科研实验；自动化产线集成在线检测工位。